型号 | EST-200 | ||||||||
系统可测量波段 | 200nm-1650nm、200nm-2550nm | ||||||||
辐照度测量精度 | 0.05 | ||||||||
测试样品最大尺寸 | 150mm | ||||||||
电动平移台移动范围 | 0-200mm | ||||||||
电动平移台读数分辨率 | 0.1mm | ||||||||
转台水平轴(C轴)扫描范围 | 0°~360° | ||||||||
转台垂直轴(y轴)扫描范围 | -90°~+90° |
拥有核心专利系统采用多项远方公司独有的专利技术,相关技术论文也被CIE所采用,具有极强的技术优势。
一体化工业设计测试系统和精密光学导轨一体化独特设计,更配有高精度自动转台,实现被测光源对准的五维精密调节,适应各类不同形态样品的测试要求。
自动化程度高自动识别危害加权辐射值最大的区域,并准确获得光源的最大光强方向,准确度极高,重复性良好,且整个光辐射危害测量评价的操作十分方便。
全波段、高精度测试采用高精度光谱仪,超宽的波长范围可覆盖200nm~2550nm,紫外杂散光限制能力高达10^-8,特别适合各类玩具产品的光安全性能测试。
数据可溯源所用标准测量装置直接溯源至NIST(美国国家标准技术研究院)和NIM(中国计量院),依据IEC标准、CIE标准和中国国家标准测量及评价要求。
系统稳定可靠,更有保障本系统具备完整的自主知识产权,有别于其他供应商(包括欧美的)的拼凑系统,整套设备整体性好,美观大方,质量稳定可靠,售后服务也更有保障,无论是使用者还是评估者,无论是内在还外观,都会让人信服。