产品分类
推荐品牌
| 型号 | OST-500 | ||||||||
| 系统盖范围 | 200nm-3000nm | ||||||||
| 波长准确度 | 0.1nm(最高) | ||||||||
| 辐亮度测量几何 | 符合CIE/IEC眼瞳模拟条件 | ||||||||
| 成像辐亮度计 | 16位科学级制冷CCD，超百万像素 | ||||||||
| 测量视场 | 100mrd/11mrd/1.7mrd或其他任意视场，符合CIE/IEC标准要求 | ||||||||
| 样品的最大重量 | 50kg | ||||||||
| 样品最大尺寸 | 1.5m | ||||||||
| 自动识别功能 | 自动找到灯具最大光强点，自动识别危害加权辐射值最大的区域 | ||||||||
| 软件程控 | 所有配套设备均由软件程控，自动化程度高，操作简单方便 | ||||||||
| 量值可溯源 | 美国国家标准技术研究院(NIST)或中国计量院(NIM) | ||||||||
| 激光辐射测试:波段覆盖范围 | 200-1600nm，测量激光产品在测量条件1、条件2和条件3下的最大可达辐射功率(或能量)，满足IEC60825标准要求(选项) |
一体化工业设计独特的测试系统和精密光学导轨一体化设计，配备高精度自动转台，被测光源或灯具的对准可实现五维精密调节，适应各类不同形态样品的测试要求。
自动化程度高系统能自动寻找光源或灯具的最大光强方向，自动识别危害加权辐射值最大的区域，整个光辐射危害测量评价的操作十分方便，且具有很高准确度和重复性。
全波段、高精度测试采用基于双单色仪的光谱仪，波长范围可覆盖200nm~3000nm，紫外杂散光限制能力高达10^-8，特别适合各类灯具、发光器件、显示器等产品的光安全性能测试。
适应各类标准所用标准装置直接溯源至美国NIST和中国NIM，参考IEC标准、CIE标准和中国国家标准要求；
拥有多项专利技术：设备含有多项远方公司独有的专利技术，具备完整的自主知识产权，相关技术论文也被CIE所采用，系统综合技术处于全球领先水平。
系统稳定可靠，更有保障：本系统具备完整的自主知识产权，有别于其他供应商（包括欧美的）的拼凑系统，整套设备整体性好，美观大方，质量稳定可靠，售后服务也更有保障，无论是使用者还是评估者，无论是内在还外观，都会让人信服。
