型号 | HAAS-3000-VIS | HAAS-2000-UV | HAAS-2000-VIS | HAAS-2000-IR1 | HAAS-2000-IR2 | ||||
波长测量范围 | 380-780nm | 200-450nm | 380-780nm | 780-1650nm | 1600-2550nm | ||||
半峰带宽 | 2.0nm | 1.0nm | 2.0nm | 9.0nm | 15.0nm | ||||
波长准确度 | ±0.2nm | ±0.1nm | ±0.3nm | ±0.5nm | ±3nm | ||||
色品坐标准确度 | ±0.0015(标准色光下) | / | ±0.0015(标准色光下) | / | / | ||||
色品坐标重复性 | ±0.0003(标准A光源下)±0.00015x±0.0002y(恒温蓝光LED) | / | ±0.0003(标准A光源下)±0.00015x±0.0002y(恒温蓝光LED) | / | / | ||||
色温范围 | 1000-100000K | / | 1000-100000K | / | / | ||||
杂散光 | ≤5E-5 | ≤1E-3 | ≤5E-5 | ≤1E-3 | ≤1E-3 | ||||
测量积分时间 | 9ms-60s | 9ms-60s | 9ms-60s | 20ms-10s | 1ms-60ms |
产品获国家研究成果及多项荣誉
低杂散光通过改良设计后高度匹配的高精度光栅和科学级制冷型阵列探测器,并利用BWCT技术和修正的NIST杂散光校正技术,其杂散光达到5.0E-05的极低水平。
宽线性动态范围与普通阵列探测器相比,HAAS-3000/2000中的科学级阵列探测器具有更宽的线性动态范围,再经过严格的光学匹配和远方的SBCT专利技术,使仪器的动态范围进一步拓宽。
快速测试HAAS-2000/3000不仅可以测量光源的稳态光学特性,也可以测量光源的瞬态光学特性,即使被测光源瞬态脉冲小于微秒,仪器均可通过同步触发功能实现快速的全光谱测量。
高精度仪器专为高精度应用场合设计,通过科学级制冷型阵列探测器和精密光栅改良设计,匹配度更高,再配以精密的光学系统和电子线路,同时采用多项专利技术,从而可以实现仪器的高分辨率、高灵敏度和低噪声,达到数据的精确测量。
高重复性和稳定性仪器无机械运动扫描机构,再采用恒温制冷技术,将环境温度的影响控制在±0.05℃的水平,测量的重复性和稳定性极高。
超高灵敏度HAAS-2000/3000经系统匹配改造设计的高精密光栅和HAMAMATSUTE-制冷阵列探测器,将仪器的灵敏度提升至0.01mcd,处于世界领先水平。