型号 | 描述 | ||||||||
SCS1000-AC-A | 本底电压101-V,EQE的测试极限10-6,滤除直流功能 | ||||||||
SCS1000-AC-B | 本底电压101-V,EQE的测试极限10-5 | ||||||||
SCS1000-AC-C | 本底电压101-V,EQE的测试极限10-4,滤除直流功能 | ||||||||
SCS1000-AC-D | 本底电压101-V,EQE的测试极限10-3 | ||||||||
SCS1000-DC-A | 量程10nA-1A,分辨率10fA,*大200V电压输出,暗电流:10pA,20W输出功率 | ||||||||
SCS1000-DC-B | 量程10nA-1A,分辨率10fA,*大200V电压输出,暗电流:10pA,40W输出功率 | ||||||||
SCS1000-DC-C | 量程10nA-1A,分辨率10fA,*大200V电压输出,暗电流:10pA,40W输出功率,双通道 | ||||||||
SCS1000-DC-D | 量程1nA-1A,分辨率0.1fA,*大200V电压输出,暗电流:1pA,40W输出功率 | ||||||||
SCS1000-DC-E | 量程1nA-1A,分辨率0.1fA,*大200V电压输出,暗电流:1pA,40W输出功率,双通道 | ||||||||
SCS1000-DC-F | 量程100uA-1A,分辨率50pA,*大200V电压输出,20W输出功率,暗电流:1nA | ||||||||
OPE-B2 | 近红外标准探测器,900-1700nm标定,间隔10nm,带标定证书 | ||||||||
OPE-B3 | 硅标准探测器,300-1100nm标定,间隔5nm,带标定证书 | ||||||||
OPE-B3-UV | 硅标准探测器,200-1100nm标定,间隔5nm,带标定证书 | ||||||||
OPE-B4 | 近红外标准探测器,900-2500nm标定,间隔10nm,带标定证书 | ||||||||
QE-F4 | 探针样品台(35mm*35mm) | ||||||||
QE-F6-C-ITC | 3M夹样品台 | ||||||||
QE-F6-H系列 | 气体密封背电极样品台 | ||||||||
QE-F6-D系列 | 背电极样品台 | ||||||||
OPE-F4-20 | 20微米真空吸附探针组件1,磁力吸附探针座2个,行程12mm,调节精度101-m2,漏电精度小于100PA3,探针直径201-m | ||||||||
OPE-F4-10 | 10微米真空吸附探针组件1,磁力吸附探针座2个,行程12mm调节精度0.71-m2,漏电精度小于1PA3,探针直径101-m |
高度自动化测试流程
符合IEC60904-8国际标准
测量结果重复性高
系统*小光斑直径可小于1mm
高稳定性高强度光源
光路监控设计
快速导入参数功能
仪器尺寸:800mmX900mmX1400mm