一、超纯超细全光谱扫描
SPSR-2030超纯分光光谱辐射测量系统采用远方公司多项独创专利技术，可实现200nm～3000nm超纯超细全光谱扫描测试分析。
二、波长准确度高，带宽小
采用独特的同轴双单色仪技术，其性能远超传统单色仪机械扫描光谱仪，且彻底消除了两个光栅的扫描同步误差，系统能到达极低的杂散光水平和极高波长准确度。
三、高稳定性和重复性
仪器结构设计集成了远方光谱仪的多项专利技术，包括光学设计、机械机构、电子电路和应用软件等，具有极高的稳定性和重复性。
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